日立制作所与瑞萨科技日前开发出了使芯片内部的电源噪声分布可视化的技术。该技术面向设计标准90nm以下的系统LSI。

       此次两家公司开发出的技术，是在系统LSI内集成超小型的电压表电路，以1mV的单位对电源电压的变动进行观测。使用该技术可对工作中的LSI电源噪声进行测量。将分析后的电源噪声数据反馈到随后的LSI开发流程中，可实现设计高效化和提高性能。

       此次开发的技术具有2个特点：（1）频率调制式电压测定技术，（2）通过嵌入多个超小型电压表，使芯片内电源噪声分布实现可视化。在特点（1）方面，使用称为环形振荡器（Ring Oscillator）的、将奇数层的信号变换器连接成环状的电路，将微小的输出变动转换为频率变动。而频率变动则由芯片外部的仪器进行测量。通过采用频率调制方式，提高了测定时的噪声耐性。在特点（2）方面，通过在芯片内嵌入多个电压表电路，实现了对电源噪声的分布测定。此外，通过共享向外部发送各电压表所产生信号的放大电路，控制了测定电路的大小。（记者：伊藤 大贵）